車用晶片安全升級關鍵！SGS 推出 AEC-Q100 SER 軟失效測試服務，助攻台廠打入國際供應鏈

軟失效（Soft Error Rate, SER）已被列為 AEC-Q100 REV-J Table 2 的必要測試項目之一 。特別是針對 FPGA、記憶體（大於1Mb SRAM/DRAM）以及內含 MCU/CPU 的 SOC 系統單晶片，這類元件已知存在軟失效風險 ，許多國際 Foundry 大廠以及 IC 公司皆知道此重要性並提供給客戶相關測試數據 。然而，許多廠商面臨的痛點在於不知如何執行測試計畫、缺乏測試平台建置能力，或是送往各地實驗室面臨高昂費用且報告內容難以解讀 。

 

SGS 功能安全暨資通安全服務中心表示，SGS 提供的解決方案具備三大優勢：首先是專業性，擁有專業輻射應用工程師提供測試結果分析與改善建議 ；其次是成本效益，相較於各地實驗室，SGS 能提供具競爭力的技術服務與收費，並在台灣、東莞、美國、英國及日本等地設有測試地點 ；第三是數據通用性，測試結果可通用於 ISO 26262 功能安全、IEC 61508 工業標準、AI 伺服器、通訊及醫療等領域 。

 

SGS 提供的在地化服務，包含依據 JESD89B 標準提供測試報告、輻射測試體驗營以及 IC 設計驗證教育服務 ，致力於解決客戶技術斷層，是 PM、QC 與業務推廣產品時的重要後盾 。

 

【關於SGS-功能安全暨資通安全服務】