2020/07/30
空降污染物對潔淨製程之影響與因應策略(9/10-台南場)
在光電半導體的製程中，AMC是影響良率的重要關鍵因子。本次研討會主要是在說明潔淨環境中空降污染分子分類與濃度等級以及空降污染分子對製程的影響，同時對於製程良率穩定之生產者建議規劃定期檢測計劃，為您提供檢測與數據分析，以確保產品品質!!
誠摯的邀請您參與此場研討會，讓您與相關產業的先進共同探討針對空降污染物對潔淨製程之影響，進而規劃建立完整品檢機制，提升生產製造環境品質使產品更具有市場競爭力。
- 費 用：免費
- 日 期：2020/09/10(四)
- 時 間：13:40-16:20
- 上課地點：南科育成中心 - B106會議室(台南市新市區南科二路12號)
- 線上報名：https://twap.sgs.com/sgsrsts/Signup/
議程表：
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半導體超微量分析服務〈南科〉
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