車用半導體可靠度技術-Soft Error Rate 課程
隨著汽車電子蓬勃發展，因應車用電子元件可靠度要求， Soft Error Rate 量化估計方法已逐漸受到重視，而如何在ISO26262功能安全標準中對半導體IC考慮暫態失效(Transient Fault)，對台灣半導體公司也是一巨大挑戰。此訓練課程將使學員了解暫態失效的發生原理，以及如何透過測試設計來精確獲得此數據，最終能透過可靠度設計方法，以提升元件對粒子輻射的強健性。
課程大綱
■ The Soft Error testing in JEDEC 89A
■ The requirement of soft error in ISO 26262 standard.
■ Why radiation is important to electronics and the terrestrial environment
■ Various radiations that are important to electronics
■ Artificial radiation environment
■ Various terms and explanation used in the study of radiation on electronics
■ Radiation effect on semiconductor devices (CMOS and Bipolar devices): TID, DD and SEE
■ Digital and Analog SEE
■ Critical charge for electronics circuit for radiation interruption and its computation
■ Computation of SEE Rate and TID Tolerance
■ Standards and References
培訓受益
■ 協助學員了解汽車電子對暫態失效原理與測試方法
■ 協助學員了解暫態失效與ISO 26262 關係
■ 協助學員了解可靠度設計方法，以提升元件對粒子輻射的強健性。
培育對象
■ 汽車電子半導體、硬體、可靠度工程師
講師介紹
■ 長庚大學可靠度科學技術中心主任 陳始明教授
■ SGS 功能安全專家 張國樑 技術經理
■ SGS 功能安全專家 黃立仁博士
訓練時程
■ 訓練日期：2021/9/28(二)，9:30a.m.~ 4:00p.m.
■ 授課地點：SGS半導體產業訓練中心；新竹縣竹北市嘉豐十一路一段100號5F-9
訓練費用
■ 活動費用原價每人NT$10,000.-/未稅。
■ 於8/31(二)前報名，享早鳥優惠價每人NT$8,000.-/未稅，名額有限，額滿即截止。
索取課程DM報名表及聯絡窗口：
Reliability Laboratory: Cindy Hung 02-2299-3279＃3661；E-mail: tw.fs@sgs.com