導入ISO 14644-8標準-強化化學汙染逸散控制
隨著半導體、光電與精密製造技術快速演進，製程環境對化學汙染的敏感度持續提升。為協助產業打造更高品質、更加穩定的製程環境，ISO 14644-8提供了空氣化學汙染的分級標準，導入設備及材料汙染物逸散控制概念，有助企業強化風險管理。
製程穩定度新挑戰-空氣中化學汙染
現今半導體先進製程朝向奈米尺度邁進，光電與精密製造技術精度要求也日益嚴苛，使得任何微量的汙染都可能影響產品品質與良率。近年來，空氣中的化學汙染已成為造成製程缺陷、元件失效與良率波動的隱性因素。此類汙染泛指空氣中任何非粒狀化學物質，來源可能包括外部空氣環境、建築材料逸散、製程化學品洩漏以及人員活動等，涵蓋酸性、鹼性、有機物、腐蝕性、氧化性物質等(如下表所示，依ISO14644-8分類)，其化學性質可能對產品、製程或設備造成不良影響。
|
化學物質類別 |
代表性汙染物 |
主要風險 |
|
酸性物質 (Acid) |
HF、HCl、HNO₃、SO₂ |
腐蝕金屬、閘氧層變薄、線寬變窄 |
|
鹼性物質 (Base) |
NH₃、amines (TMA, DMA, TEA) |
與酸類反應、EUV 及先進曝光區線寬偏移、T-topping |
|
有機物 (Organic) |
IPA、acetone、alcohols、aromatics、VOC |
影響光阻反應、沉積膜厚不均、殘膠 |
|
可凝結物 (Condensable) |
Siloxane、phthalates、silicone oil |
元件鏡片表面殘留、界面反應不均 |
|
腐蝕性物質 (Corrosive) |
HCl、HF、NO₂、SO₂ |
金屬氧化腐蝕 、介電層失效、降低鏡片透光率 |
|
摻雜性物質 (Dopant) |
PH₃、BF₃、AsH₃、B₂H₆ |
高毒性危害、光阻殘留、介電層漏電 |
|
氧化性氣體 (Oxidant) |
O₃、Cl₂ |
金屬氧化、EUV反射鏡損傷、膜質劣化 |
|
生物毒性物質 (Biotoxic) |
Xylene、PH₃、SO₂、NO、NO₂、Endotoxin |
表面汙染、微粒缺陷、潛在健康風險 |
當化學汙染物透過空氣傳輸並吸附於關鍵製程表面時，極易形成肉眼難以察覺的微量汙染，卻足以在光阻塗佈、光學曝光、蝕刻、薄膜沉積等關鍵步驟引發缺陷，造成光阻反應異常、線寬偏移、膜厚不均、介電層失效，甚至改變材料表面化學特性，影響產品電性與長期可靠度。
因此，在高端製程環境與無塵室中，除了嚴格控管空氣中微粒濃度以符合 ISO Class 要求外，更完善的化學汙染管制標準已成為確保製程穩定、提升良率與維持競爭力的關鍵。
ISO 14644-8：空氣化學汙染分級標準
ISO 14644-8 Assessment of air cleanliness by chemical concentration (ACC) 為 ISO 14644 無塵室與受控環境系列標準中專門針對化學性汙染的章節，該標準用於評估空氣化學潔淨度等級，並提供酸性、鹼性、有機等多種類型化學物質的測試方法，補足先進製程對「氣態汙染物」的管理需求，協助製程環境從「微粒控制」進一步提升至「分子控制」。
通用等級：ACC潔淨度
透過氣體捕集系統收集汙染物，以化學濃度(g/m)作為換算基礎，對應空氣潔淨度等級(N)，建立一致性標準
ISO-ACC Level N (X)，X =一種或一群組化學物質
重要目的：品質評估標準化
ISO 14644-8 提供一套國際通用評估架構，無塵室可依應用需求訂定汙染控制等級，並以此作為風險管理指標，有助於提升驗證標準的統一性並確保跨區品質達同一水準。ISO 14644-8標準確保各產業可有效：
- 量化 空氣化學汙染等級，用來評估與改善化學逸散程度
- 建立 分級架構與防護策略，強化廠區管理能力與資訊透明度
- 控制 高敏感製程中的化學汙染，降低汙染風險與潛在捨棄成本
- 比較 各廠區或設備的製程品質，同步國際客戶品質驗證要求
使用時機：從設計到運行的每一階段
ISO 14644-8 的適用範圍涵蓋高靈敏儀器操作區，以及半導體、光電、高端材料、生物科技等高敏感產業，可運用於製程生命週期的每個環節，包括規劃設計初期階段、設備安裝與驗證期間、日常監測與管制以及變更管理階段。
SGS 潔淨度測試服務
化學汙染管理已不只是輔助措施，而是決定產品品質與良率的關鍵要素。SGS透過專業的汙染分析技術，提供可靠的測試結果，協助企業能更有效地執行潔淨度策略管理，提升產品穩定度與國際競爭力，確保每座無塵室皆能維持最佳製程環境品質！
📧 semi.cs.tw@sgs.com ☎ +886 2 2299 3279 #7132-7134
